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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
電子產(chǎn)品溫濕度循環(huán)測試方法高低溫試驗箱：
試驗?zāi)康?/span>
驗證產(chǎn)品及材料在高低溫及大氣濕度條性下。所承受環(huán)境變化的能力。
高低溫循環(huán)試驗?zāi)康?/span>: 檢驗產(chǎn)品受到長時間冷熱溫度交變作用后熱應(yīng)力對產(chǎn)品性能的影響作用。溫?zé)嵩囼災(zāi)康?檢驗產(chǎn)品受到高溫高濕環(huán)境時的劣化特性，評價材料的吸濕特性、結(jié)露特性，及產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的貯存和使用性能。
濕熱試驗條件
試驗持續(xù)時間(一般最少10個周期，240h，但需要預(yù)處理24h,試驗至少需要264h)
試驗以24h為一個循環(huán)周期，最少進(jìn)行10個周期。一般10個周期足以展現(xiàn)濕熱環(huán)境對大多數(shù)裝備的潛在影響。為了使?jié)駸嵩囼灲Y(jié)果更真實地反映裝備耐濕熱環(huán)境的能力，可按有關(guān)文件的規(guī)定，延長試驗持續(xù)時間。
溫濕度測試基本范疇是25%RH～95%RH（在20℃～85℃中間）。伴隨著社會的發(fā)展趨勢，測試規(guī)定也愈來愈高，全新的流行溫濕度測試范疇大多數(shù)早已提升到10%RH～98%RH（在溫度10℃～95℃中間）。
試樣制備：
1、低溫測試，要求25±5℃，60±15%裸機(jī)，開機(jī)4h;
2、高溫測試，要求溫度+55℃，試驗4h;
3、熱沖擊試驗，裸機(jī)在關(guān)機(jī)的情況下，+85℃環(huán)境條件下45min，-40℃環(huán)境條件下試驗45min，兩溫度的轉(zhuǎn)換時間不大于15秒，進(jìn)行27個循環(huán)，測試后放置至少兩個小時后進(jìn)行開機(jī)檢測;
4、溫度循環(huán)測試，裸機(jī)關(guān)機(jī)，70℃測試1h，40℃測試1h，-40℃測試1h，每個循環(huán)為三個小時，共27個循環(huán)，測試后放置至少2個小時進(jìn)行檢測;
5、高溫高濕存貯試驗，在裸機(jī)開機(jī)狀態(tài)下，試驗溫度調(diào)為55℃，濕度93%RH，試驗時間設(shè)置為72h，測試后放置2h進(jìn)行功能、電性能、外觀檢測，再用普通透明膠帶粘附鍵盤，每次持續(xù)時間1分鐘，1分鐘后在1秒內(nèi)將鍵盤剝離膠帶，共進(jìn)行3次，檢測鍵盤是否有漆層脫落、鍵盤脫落故障。
試驗步驟：
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透"，再次通電進(jìn)行測試。
2、開機(jī)，對樣品進(jìn)行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進(jìn)行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90℃，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。
6、如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。
